Dual Shear Wave Ultrasonic Focus Probe for at kontrollere tynd pladensvejsning inspektion
Probe Crystal Størrelse: dobbelt: 3,5x10mm
l God nær overfladeopløsning
l Båndbredde: 75,9% (- 6db)
Specielt design til kontrol af tynd plade- og rørsvejsningskontrol
Frekvens |
Krystalstørrelse |
Sondevinkel |
Fokusdybde |
4 MHz |
3,5x10mm dobbelt |
45 grader |
10 mm |
4 MHz |
3,5x10mm dobbelt |
60 grader |
8 mm |
4 MHz |
3,5x10mm dobbelt |
70 grader |
6 mm |
Skriv din besked her og send den til os